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基于周期性AlN/GaN异质结的固态光电倍增管

发布日期:2017-11-30     作者:电子科学与工程学院      编辑:林曦莹     点击:

报告题目:基于周期性AlN/GaN异质结的固态光电倍增管

报 告 人:汪莱 副教授

清华大学

主 持 人:张源涛 教授

报告时间:2017年12月4日 10:00

报告地点:唐敖庆楼D311报告厅

主办单位:电子科学与工程学院

集成光电子学国家重点实验室

物质科学吉林省高校高端科技创新平台

摘要:

用固态器件代替真空器件是近几十年半导体器件发展的基本趋势,例如用晶体管代替电子管、用发光二极管代替白炽灯和荧光灯等。但是在单光子级别的微弱光探测上,光电倍增管(PMT)这一真空器件时至今日依然是综合性能最佳的器件。尽管基于半导体的雪崩光电二极管(APD)可以实现光生载流子的倍增放大,但由于半导体中存在电子和空穴这两种载流子,APD的工作模式和PMT有显著区别。为获得高增益,APD必须工作于高场强下,此时电子和空穴的离化碰撞系数接近,倍增过程双向发生,使得APD的增益随电压陡峭增加导致雪崩击穿。这是受限于半导体能带的固有问题。因而,在探测单光子时,APD一般须工作于盖革计数模式,完全不同于PMT。盖格模式必须依赖复杂的控制电路,当制作高分辨探测器阵列时,控制电路将变得异常复杂。

本报告介绍了我们近期利用宽禁带半导体带阶大、能谷深的优势,实现了一种基于周期性AlN/GaN异质结结构的类PMT模式APD。其中,电子和空穴的离化系数之差约100倍,可认为只有电子这一种载流子发生离化碰撞。该APD在线性模式(非盖革模式)下实现了104的增益,而在此之前该记录为基于HgCdTe材料的103,常见的Si和SiC材料只有100,GaN材料只有10。此增益还可通过进一步优化异质结参数和增加异质结周期来提高,从而有望在线性模式下达到105-

106的水平,满足单光子探测的要求。

汪莱,清华大学电子工程系教研系列副教授、特别研究员、博士生导师。从事氮化物半导体光电子材料及器件研究。在高发光效率InGaN量子阱外延生长、LED器件物理和内量子效率评价方法、InGaN量子点发光器件、GaN基高增益线性模式雪崩探测器等方面取得了一系列创新成果。发表SCI论文90余篇,国际会议特邀报告10余次。2011年因GaN基LED材料研究的贡献获国家科技进步二等奖。

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